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X射線熒光光譜儀,尤其是順序式X射線熒光光譜儀,每一個測量過程都有許多部件在動作,精密度測試即測試這些部件的到位精密度。計量方法:連續(xù)測量20次,每次測量都改變機械設置條件,包括晶體、計數(shù)器、準直器、2Η角度、濾波片、衰減器和樣品轉臺位置等,精密度以相對標準偏差RSD表示,要求RSD≤2.0√N1/2×100%(N為平均累計計數(shù))。波長色散X射線熒光光譜儀在平均累計計數(shù)為1910354時的相對標準偏差為0.09%,精密度限值為0.14%。在澳大利亞標準中要求對每一個運動部件分...

以金礦三、四期礦樣的物質成分研究進行說明X衍射的工作方法和分析步驟,具體如下：1、礦樣特征由于三、四期礦樣均為褐色砂狀礦樣,以氧化物為主,用水析分離后表明三期礦石風化程度較大。2、光譜分析對礦樣的平均樣品進行光譜分析,確定礦樣中大致上所含元素種類。光譜分析結果表明硅、鋁、鎂、鐵含量較高,同時還有其他元素少量或微量。3、化學分析對含量較高的元素進行化學分析,得出元素在礦樣中的具體含量。化學分析結果表明礦樣的主要元素為二氧化硅,次要元素為鐵、氧化鋁和氧化鎂。三期礦石含硫較低,其他...

1、X熒光光譜儀核查周期X熒光光譜光譜儀經(jīng)機構檢測合格后每3個月進行一次期間核查。2、X熒光光譜儀期間核查的類型采用定值物質進行核查。3、X熒光光譜儀核查內容①PE基質工作曲線用已有的PE基質工作曲線測定PE基質的定值物質6次，其定值為：Cr：600ppm、Cd：310ppm、Hg：600ppm、Pb：620ppm、Br：590ppm，計算出其平均值和相對標準偏差。要求各個元素的平均值落在定值的95-105%之間，相對標準偏差必須小于10%。②PVC基質工作曲線用已有的PVC...

一、進口X射線衍射儀制樣中應注意的問題1、樣品粉末的粗細：樣品的粗細對衍射峰的強度有很大的影響。要使樣品晶粒的平均粒徑在5μm左右，以保證有足夠的晶粒參與衍射。并避免晶粒粗大、晶體的結晶完整，亞結構大，或鑲嵌塊相互平行，使其反射能力降低，造成衰減作用，從而影響衍射強度。2、樣品的擇優(yōu)取向：具有片狀或柱狀*解理的樣品物質，其粉末一般都呈細片狀或細律狀，在制作樣品過程中易于形成擇優(yōu)取向，形成定向排列，從而引起各衍射峰之間的相對強度發(fā)生明顯變化，有的甚至是成倍地變化。對于此類物質，...

由于產(chǎn)生誤差的原因不同,能量色散型X熒光光譜儀各種誤差具有不同的性質,顯示出不同的基本特征。通常將誤差分為系統(tǒng)誤差、隨機誤差與過失誤差三類。(1)系統(tǒng)誤差由于在能量色散型X熒光光譜儀測定過程中某些固定的原因,造成測定結果經(jīng)常性偏高或偏低,出現(xiàn)比較恒定的正誤差或負誤差,這種誤差稱為系統(tǒng)誤差,或者稱為固定誤差、可測誤差,它是測定結果中的主要誤差來源。系統(tǒng)誤差的特點是,這種誤差在測定過程中按一定規(guī)律重復出現(xiàn),并具有一定的方向性,表現(xiàn)為測定結果經(jīng)常性偏高或偏低,增加測定次數(shù)并不能減少...